5月9日上午，应微波成像技术重点实验室邀请，国际著名微波成像科学家德国宇航中心Richard Bamler教授到中科院电子学研究所交流访问，并作了题为High Resolution Radar Remote Sensing From Space by TerraSAR-X and TanDEM-X: Algorithms and Applications的学术报告。

Bamler教授主要介绍了德国宇航中心在微波遥感领域的研究现状及重要成果。以TerraSAR-X and TanDEM-X两颗先进民用遥感卫星为主线，Bamler教授分别介绍了建筑物形变检测、城区层析成像、干涉成像等遥感应用的最新进展。报告结束后，Bamler教授就本次报告相关内容与电子所师生进行了交流互动。

本场报告会是电子所创新团队国际合作伙伴计划“先进微波探测与信息处理”的2012年第二场学术报告会，Richard Bamler教授也是本年度第四位来所进行交流的国际合作伙伴。

Bamler教授是德国慕尼黑工业大学电子学博士。现任德国宇航中心（DLR）遥感技术所所长、慕尼黑工业大学（TUM）遥感系主任。曾提出著名的“Chirp-Scaling”成像算法，他在SAR领域的研究成果享誉全球。

Richard Bamler教授作报告

报告会现场