2月22日，应中国科学院功能晶体与激光技术重点实验室邀请，美国Stanford Photo-Thermal Solutions(SPTS)公司Alexei教授来理化技术研究所进行学术交流，并作了题为Photothermal Tests of Absorption的学术报告。

报告中,Alexei教授介绍了光热弱吸收仪早期的设计思想，随后重点讲述了该仪器的基本工作原理及具体应用。这种光热弱吸收仪主要用于测量多种晶体、薄膜对于某一波长光束的吸收能力，具有灵敏度高、探测精度高、稳定性高等优点。这些特点使得该仪器成为目前国际上使用较为广泛的用于晶体、薄膜弱吸收测量的主要仪器之一。

报告后，Alexei教授同重点实验室的科研人员和研究生进行了热烈的讨论与交流，并参观了相关实验室。

Alexei教授曾长期在俄罗斯莫斯科大学从事非线性光学晶体生长和光学特性的研究工作，随后到美国斯坦福大学进行长期学术交流，并于2002年开始作为技术主管，任职于SPTS公司至今。在此期间，主要从事光热共路干涉仪（Photothermal Common-path Interferometer，简称PCI）即光热弱吸收仪的研发及应用工作。