7月26日，应中科院低温工程学重点实验室低温材料及低温技术研究中心邀请，美国西部数据公司首席高级研发人员L. F. Chen博士来理化技术研究所进行学术交流，并作了题为Advanced EELS and EFTEM Analytical Applications in Transmission Electron Microscopy的学术报告。

报告中，L. F. Chen博士主要介绍了透射电子显微镜(TEM)的前沿技术EELS（电子能量损失谱）的基本原理：利用单色性很强的电子束照射待测材料，一部分入射电子与待测材料相互作用后发生非弹性散射，通过测量散射电子的能量损失谱可以取得样品的丰富信息。与现有实验方法相比，该方法具有分辨率高、可取得样品的三维信息等优点，在材料科学领域具有广阔的应用前景。

报告会后，L. F. Chen博士与唐芳琼研究员、师文生研究员、孟祥敏研究员、李来风研究员等进行了热烈的讨论，并参观了低温材料及低温技术研究中心实验室，对实验工作提出了意见和建议。

L. F. Chen博士作报告

学术报告会场