应中科院金属研究所邀请，2011年度李薰材料科学讲座系列讲座奖获得者、美国橡树岭国家实验室S.J.Pennycook教授于6月29日至7月1日到金属所访问讲学。

来访期间，副所长杨锐会见了Pennycook教授，并为其颁发了李薰讲座奖奖牌，Pennycook教授为金属所科研人员和研究生作了题为Scanning Transmission Electron Microscopy: Past, Present and Future的学术报告，与金属所固体原子像研究部的科研人员和研究生就共同感兴趣的问题进行了深入细致的交流。

访问期间，Pennycook教授还参观了沈阳材料科学国家（联合）实验室。

Pennycook教授毕业于英国剑桥大学，他是国际上公认的高分辨率Z衬度成像技术的开拓者。他在35岁时首次利用扫描透射电子显微镜下的环型暗场技术获得高分辨率原子序数(Z)衬度像(Nature,1988)。自此，该成像技术成为与传统相干成像技术相平行的一种新的高分辨电子显微技术。近20年来，与Z衬度成像相关的软硬件广泛装备于国际上各类电子显微学实验室，是现代材料电子显微分析不可或缺的重要手段。近年来，Pennycook教授应邀在国际上一些重要的研究机构以及国际会议上作邀请报告230余次；发表专著及参与撰写学术专著30余部；在国际学术期刊上发表论文350余篇，其中10篇发表于Nature、9篇发表于Science上。Pennycook教授曾荣获美国能源部杰出成就奖以及美国材料学会、美国微束分析学会的多项奖励。

S.J.Pennycook教授作报告

报告会现场