近日，应中科院长春应化所电分析化学国家重点实验室李壮研究员的邀请，美国亚利桑那大学Ampere A. Tseng教授到应化所进行学术访问，作了题为Nanofabrication Using Atomic Force Microscopy的学术报告。

微纳米加工是构建微纳米器件的重要手段，原子力显微镜（AFM）具有纳米尺度的测量和操纵能力，是进行物质表面形貌测定、纳米加工的有力工具。利用AFM进行纳米加工和构建，就是用AFM的针尖，或者在其上进行修饰，从而在不同的基底上进行加工刻蚀，制作不同的纳米器件等。在报告中，Tseng从理论计算和加工的角度详细介绍了他们研究组在该领域的研究进展。

1978年，Ampere A.Tseng在Georgia Institute of Technology获得机械工程博士学位，迄今已发表250余篇学术论文，获得9项美国专利。先后获得Superior Performance Award of Martin Marietta Laboratories, RCA Service Award, Alcoa Foundation Research Award, and ASU 1999-2000 Faculty Award等奖项，编写了10余部机械学方面的专论，并担任10余种机械学杂志的编委。现在美国亚利桑那大学机械与航空航天工程系任教授。