应上海技物所副所长戴宁的邀请，美国国际光学工程学会（SPIE）主席Ralph James教授近日访问上海技物所。

来访期间，Ralph James教授为科研人员作了题为Cadmium Zinc Telluride X-ray and Gamma Detectors: Yesterday Today and Tomorrow的学术报告，同时介绍了SPIE的相关情况，他鼓励更多的中国科研人员加入SPIE，报告详细的内容以及精彩的演讲吸引了科研人员，报告厅座无虚席。会后，技物所科研人员和Ralph James教授进行了技术讨论和交流，并就进一步合作进行了探讨。随后参观了技物所科研成果展示厅。

Ralph James教授在半导体探测器方面具有很高的造诣，已经担任了近十届的IEEE 室温半导体探测器分会的主席，并于今年被选为国际SPIE协会主席。