近日，日本物质材料研究所Dmitri Golberg博士到中科院上海硅酸盐所进行学术交流，并做了题为In-situ TEM electrical and mechanical properties measurements of low-dimensional inorganic nanomaterials的学术报告。

    报告着重介绍了Golberg的课题组近年来在纳米结构性能原位表征方面取得的研究成果，课题组利用与Nanofactory公司合作开发的精密压电驱动的STM-TEM和AFM-TEM样品杆，实现了在透射电子显微镜内对低维无机纳米材料个体的机械性能和电学性能的测量，如多壁硼氮纳米管、硫化镉纳米带、氧化锌纳米线/棒、铜填充多壁纳米碳管等。同时，D.Golberg还利用动态的实验录像生动的展示了结构形貌变化过程，解释了很多有趣的物理现象。