5月17日，美国Sarnoff公司的三位专家到中国科学院西安光学精密机械研究所访问。该所所长相里斌、副所长吕建成接待了美国客人，并向他们详细介绍了西安光机所所况和研究所的科研成果。随后，该所部分科研人员和美国Sarnoff公司专家就合作项目的设计方案进行了认真的研讨，专家们对西光所提交的项目设计方案表示满意，双方就推进项目的下一步实施计划达成一致意见。在交流中，美国Sarnoff公司对西安光机所取得的许多重大科技成果表示了浓厚的兴趣，双方就进一步加强科技领域内的更广泛合作达成初步意向。

    去年，西安光机所与美国Sarnoff公司就共同开发用于高电压等设施安全检测的双光谱相机这一项目达成合作意向。Sarnoff公司是国际知名的高科技公司，其产品涉及诸多科技领域，其中高性能CCD探测器等产品的研制与开发居世界领先地位。